langer MV-Technik工具E1

Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究，開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過(guò)EMC實(shí)驗(yàn)研討會(huì)和EMC研討會(huì)，我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R(shí)。

我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測(cè)量技術(shù)以及IC測(cè)試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段，并且在范圍內(nèi)都有需求。

產(chǎn)品展示

PCB抗擾度

測(cè)量系統(tǒng)和EMC工具，用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測(cè)試和分析

PCB發(fā)射

在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測(cè)量系統(tǒng)和EMC工具

測(cè)量和校準(zhǔn)站

測(cè)量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測(cè)量?jī)x器并確定連接器的EMC參數(shù)。

教學(xué)與培訓(xùn)測(cè)量技術(shù)

EMC實(shí)驗(yàn)的模型裝配

IC測(cè)量技術(shù)

借助IC（集成電路）測(cè)試系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在特定干擾（傳導(dǎo)和輻射）或其輻射期間測(cè)試電路的行為。該IC在運(yùn)行中經(jīng)過(guò)了測(cè)試。

E1是一組EMC工具，用于在開發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開發(fā)人員可以使用E1集快速識(shí)別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開發(fā)人員可以設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)拇胧﹣?lái)解決干擾的原因。它也可以用來(lái)測(cè)試所采取措施的有效性。E1測(cè)試裝置很小，可輕松安裝在開發(fā)人員的桌子上。E1集用戶手冊(cè)介紹了EMC機(jī)制，并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測(cè)量策略。E1集包括一個(gè)發(fā)生器，用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。

供貨范圍

• 1倍SGZ 21，脈沖發(fā)生器
• 1倍S21，光學(xué)傳感器（10 Mbps）
• 1倍BS 02，磁場(chǎng)源
• 1倍BS 04DB，磁場(chǎng)源
• 1倍BS 05D，磁場(chǎng)源
• 1倍BS 05DU，磁場(chǎng)源
• 1倍ES 00，電場(chǎng)源
• 1倍ES 01，電場(chǎng)源
• 1倍ES 02，電場(chǎng)源
• 1倍ES 05D，電場(chǎng)源
• 1倍ES 08D，電場(chǎng)源
• 1倍MS 02，磁場(chǎng)探頭
• 1倍E1 acc，配件
• 1倍NT FRI EU，電源裝置
• 1倍E1案例，系統(tǒng)案例
• 1倍E1 m，E1設(shè)置用戶手冊(cè)

Langer EMV-Technik P1 set

Langer EMV-Technik P23 set

Langer EMV-Technik P11t set

Langer EMV-Technik P12t set

Langer EMV-Technik CAN 100 set

Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set

LIN 100 set

BD 11

BD 06B

BD 01B

BD 01E

ESA1 set

HFW 21 set

Z23-1 set

Z23-2 set

NNB 21 set

PA 203 SMA套件

PA 303 BNC套件

PA 303 SMA套件

PA 303 N套

PA 306 SMA套

ICS 105

FLS 106 IC

Langer EMV-Technik FLS 106 PCB

Langer EMV-Technik SUH 106

Langer EMV-Technik LF1

Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set

Langer EMV-Technik A100-1 set

Langer EMV-Technik XF-R 100-1

迷你突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器特別小。它們用于在開發(fā)階段識(shí)別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會(huì)在其產(chǎn)生脈沖串或ESD場(chǎng)。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測(cè)設(shè)備（例如印刷電路板）上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點(diǎn)會(huì)響應(yīng)脈沖場(chǎng)，并且會(huì)發(fā)生故障。突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計(jì)的選定單個(gè)部分，以識(shí)別潛在的弱點(diǎn)（接地系統(tǒng)中的故障，單個(gè)走線或IC引腳）。分開的磁耦合（P11和P12）和電耦合（P21）允許針對(duì)相應(yīng)的弱點(diǎn)佳地調(diào)整EMC對(duì)策。

供貨范圍

• 1倍P11，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器（B）
• 1倍P12，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器（B）
• 1倍P21，迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器（E）
• 1倍P1機(jī)殼，Mini Burst Field Generators機(jī)殼
• 1倍P1 m，P1設(shè)置用戶手冊(cè)
• langer MV-Technik工具E1